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臺(tái)式掃描電鏡Phenom 飛納 降低荷電效應(yīng)控溫樣品臺(tái)

 發(fā)布時(shí)間:2012/11/12 點(diǎn)擊量:2665
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詳細(xì)介紹:

Phenom飛納臺(tái)式掃描電子顯微鏡裝配控溫樣品杯,用于真空敏感或易受損樣品的研究。控溫樣品杯可以對(duì)樣品進(jìn)行冷凍或加熱,改變樣品周?chē)鷿穸?、氣壓。同時(shí)利用低真空技術(shù),zui大限度的減小電子束轟擊造成的荷電效應(yīng)和樣品損傷。

傳真:

郵箱:info@phenom-china.com

地址:上海市閔行區(qū)虹橋鎮(zhèn)申濱路 88 號(hào)上海虹橋麗寶廣場(chǎng) T5,705 室

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