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臺(tái)式掃描電鏡在納米材料中的應(yīng)用

 更新時(shí)間:2022-06-27 點(diǎn)擊量:912
  臺(tái)式掃描電鏡價(jià)格可以咨詢我們,是利用二次電子信號(hào)成像來觀察樣品的表面形態(tài)。掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。
 
  臺(tái)式掃描電鏡是利用聚焦得非常細(xì)的高能電子束在試樣上掃描,激發(fā)出各種物理信息。通過對(duì)這些信息的接受、放大和顯示成像,獲得測(cè)試試樣表面形貌的觀察。掃描電鏡可以直接觀察觀察納米材料,進(jìn)行材料斷口的分析,直接觀察原始表面等。
 
  掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。試樣制備簡(jiǎn)單,目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置,這樣可以同時(shí)進(jìn)行顯微組織形貌的觀察和微區(qū)成分分析(即SEM-EDS),因此它是當(dāng)今十分重要的科學(xué)研究?jī)x器之一。
 
  所謂納米材料,是指材料的顆粒或微晶尺寸在0.1-100nm范圍內(nèi),在保持表面清潔的條件下,通過壓制形成的固體材料納米材料具有許多不同于晶態(tài)和非晶態(tài)的物理和化學(xué)性質(zhì)納米材料具有廣闊的發(fā)展前景,將成為未來材料研究的掃描電鏡的一個(gè)重要特點(diǎn)是分辨率高現(xiàn)在它被廣泛用于觀察納米材料。
 
  掃描電子顯微鏡可以直接觀察直徑為100毫米、高度為50毫米或更大尺寸的樣品,不受樣品形狀的限制,也可以觀察到粗糙的表面,避免了樣品制備的麻煩并能真實(shí)觀察樣品本身不同物質(zhì)成分的對(duì)比度(背反射電子圖像)。

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