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如何利用掃描電鏡進行自動化分析?

 更新時間:2018-01-15 點擊量:2147

在之前的博客中,描述了掃描電鏡(SEM)自動化分析是如何節(jié)省研究人員和操作員的寶貴時間。掃描電鏡的操作者使用電鏡的目的各不相同。這篇博客詳細描述了掃描電鏡(SEM)在自動化的激光損傷閾值測試(LIDT)中的應(yīng)用。

 

掃描電鏡(SEM):自動化的激光損傷閾值測試

 

較強的激光會破壞光學(xué)器件,如鏡面,光學(xué)涂層或纖維。為了選擇合適的光學(xué)器件, 發(fā)現(xiàn)多大能量的激光會損害一個組件,或者*地改變其光學(xué)特性是十分重要的。

 

圖一:光學(xué)涂層被激光損傷后的掃描電鏡背散射(BSD)圖片

 

為了確定準(zhǔn)確的激光能量影響大小,需要進行激光損傷閾值測試。柵格圖樣中的光學(xué)器件暴露在具有不同強度和波長的激光中。在接觸激光后,使用不同類型的光學(xué)顯微鏡和掃描電鏡檢查這些光學(xué)器件的損傷程度。網(wǎng)格包含數(shù)百個不同的點,每個點都必須檢測。人工手動測試將需要消耗大量的時間。

 

如何自動獲取每個點的圖像

 

使用飛納掃描電鏡的可編程接口,創(chuàng)建一個腳本以自動獲取每個點的圖像。該腳本通過由激光創(chuàng)建的坐標(biāo)列表來工作。然后,在兩個特定坐標(biāo)點上校準(zhǔn)載物臺,zui后,腳本將在特定的放大倍數(shù)中對每個點進行圖像采集。

 

圖2:LIDT掃描腳本的用戶界面:小紅點和綠點代表了光學(xué)涂層暴露在激光下。

 

所有的圖像都存儲在選定的文件夾中供用戶檢查。如果某個特定點需要進一步檢查,那么,在用戶界面上單擊它就可以很容易地找到并進行分析。自動化操作為用戶節(jié)省大量的圖像采集時間。如今,用戶只需要點擊圖像,檢查是否存在損傷即可。

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