樣品名稱:沉積巖
樣品類型:樹脂鑲嵌
是否噴金:未噴金
設(shè)備型號(hào):飛納電鏡能譜一體機(jī) Phenom ProX
樣品杯:降低荷電效應(yīng)金相樣品杯
測試項(xiàng)目:光學(xué)顯微鏡;掃描電鏡;能譜:EDS mapping
測試目的:能譜元素分析,重點(diǎn)檢驗(yàn) Mn 元素的含量以及分布情況
測試概況:對(duì)樣品斷口進(jìn)行樹脂包埋制樣,通過飛納電鏡自帶光學(xué)顯微鏡觀察,樣品整體為黃褐色,而樣品機(jī)體上存在黑色線條,對(duì)其進(jìn)行掃描電鏡背散射探頭成像。使用能譜進(jìn)行面掃分析發(fā)現(xiàn),Mn 元素整體含量較低,但集中分布于同一個(gè)沉積層上。
制樣
將沉積巖樣品取一小塊,斷口平面垂直于原始黑色表面,將斷口使用樹脂包埋,使 400,800,2000 目砂紙進(jìn)行拋光。
圖1. 樹脂包埋樣品
光學(xué)顯微鏡成像
使用飛納電鏡內(nèi)置彩色光學(xué)顯微鏡對(duì)樣品進(jìn)行觀察。樣品整體呈黃褐色,樣品中央位置存在黑色線條。
圖2. 飛納電鏡光學(xué)顯微鏡成像,放大倍數(shù)20倍
圖3. 飛納電鏡光學(xué)顯微鏡成像,放大倍數(shù)41倍
掃描電鏡成像
切換到電子顯微鏡模式,由于采用降低荷電效應(yīng)樣品杯,實(shí)現(xiàn)了無須噴金直接觀看。對(duì)于此類樣品,我們采用背散射電子探測器(BSD)進(jìn)行成像,飛納電鏡高亮度 CeB6 燈絲與高靈敏度背散射電子探測器,可以準(zhǔn)確分辨出不同元素的成分襯度:元素越重,背散射圖像越亮。
通過光學(xué)導(dǎo)航系統(tǒng),首先定位至光學(xué)導(dǎo)航中黑色的線條位置,圖4。通過背散射圖像發(fā)現(xiàn),黑色線條對(duì)應(yīng)著背散射圖像中顏色發(fā)亮的線條,圖5。根據(jù)經(jīng)驗(yàn),我們認(rèn)為該位置存在相對(duì)更重的元素分布。
圖4. 光學(xué)導(dǎo)航系統(tǒng)
圖5. 掃描電鏡背散射(BSD)探頭成像
掃描電鏡能譜(EDS)分析
整個(gè)視野進(jìn)行能譜面掃描分析。測試結(jié)果如下所示:對(duì)于我們重點(diǎn)關(guān)注的 Mn 元素,其重量百分比為 0.55%,也就是 5500 mg·Kg-1.
FOV: 537 µm, Mode: 15kV - Map, Detector: BSD Full, Time: SEP 12 2017 16:47
圖6.元素分布與含量
對(duì)所有元素分布進(jìn)行 Mapping 掃描,結(jié)果顯示 Mn 元素的集中區(qū)域?yàn)榫€條狀,對(duì)應(yīng)一個(gè)薄薄的沉積層。
Oxygen 氧
Silicon 硅
Aluminium 鋁
Iron 鐵
Calcium 鈣
Magnesium 鎂
Potassium 鉀
Manganese 錳
圖6. 能譜 EDS mapping 各元素分布情況
結(jié)論
使用飛納電鏡,對(duì)未噴金樣品進(jìn)行分析,通過光學(xué)顯微鏡發(fā)現(xiàn)黑色的沉積層,使用優(yōu)良的背散射成像看到該層為相對(duì)原子序數(shù)更重的元素聚集,通過能譜發(fā)現(xiàn)該沉積層存在 Mn 元素的聚積。
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